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18 天
联和存储科技推出革命性SPI芯片时序测试系统,助力自动化测试效率 ...
金融界近日报道,联和存储科技(江苏)有限公司成功取得国家知识产权局授权的“SPI芯片时序的测试系统”专利。这一创新测试系统的推出,标志着该公司在自动化检测工具领域迈出了重要的一步。SPI(串行外设接口)是一种广泛应用于各种电子设备中的接口标准,联和存储科技通过此次专利,旨在提升SPI芯片的测试效率与准确性,为行业开发者提供更加高效的解决方案。
电子工程专辑
9 天
嵌入式软件开发时序图:电平与时间的关系
例如,I2C通信中的SCL和SDA,SPI通信中的MOSI和MISO,GPIO控制线等。通过上下的排列,我们可以清楚看到这些信号在不同时间点的状态。 从左到右:时间是时序图的核心,因此图从左到右表示时间的推进。在分析时,需要关注信号随时间的变化,电平在不同时间段的 ...
搜狐
17 天
联和存储科技新专利:自动化SPI芯片时序测试系统引发关注
这项技术提高了测试的准确性,使得用户可以以更高效的方式对SPI芯片进行全面的时序测试。 SPI(Serial Peripheral Interface)是一种用于微控制器与各种 ...
18 天
联和存储科技:首创自动化SPI芯片时序测试系统专利
在芯片技术迅速发展的大背景下,联和存储科技(江苏)有限公司凭借其在SPI芯片时序测试领域的创新,成功获得了国家知识产权局颁发的专利。这项名为"SPI芯片时序的测试系统"的专利(授权公告号CN222337627U)标志着该公司在自动化测试领域迈出了重要的一步。
搜狐
17 天
联和存储科技:首创自动化SPI芯片时序测试系统专利
在芯片技术迅速发展的大背景下,联和存储科技(江苏)有限公司凭借其在SPI芯片时序测试领域的创新,成功获得了国家知识 ...
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